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口罩檢測儀
無損檢測設(shè)備(X射線探傷,超聲波探傷)
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LED測試儀器(功率儀、LED在線測試及老化壽命測試儀)
氧氮?dú)涮剂蚍治鰞x
涂鍍層測厚儀、光澤度計
金相顯微鏡
主營產(chǎn)品:

進(jìn)口直讀光譜儀,手持式X熒光光譜儀,手持式合金分析儀,微機(jī)控制萬能材料試驗機(jī),全自動顯微硬度計,紅外碳硫分析儀

產(chǎn)品分類
口罩檢測儀
無損檢測設(shè)備(X射線探傷,超聲波探傷)
硬度計(端淬硬度計)
VOC在線監(jiān)測系統(tǒng)(揮發(fā)性有機(jī)物在線監(jiān)測)
汽車部件定制設(shè)備(汽車踏板耐久試驗臺、汽車手剎壽命試驗臺、汽車換檔耐久試驗臺、拉索耐久試驗臺、千斤頂綜合試驗臺)
手持光譜儀(便攜式光譜儀、移動式元素分析儀、尼通手持式光譜儀)
油料光譜儀(油液分析儀,斯派超油料光譜分析儀)
光譜儀(直讀光譜儀,火花直讀光譜儀,光譜分析儀,光譜元素分析儀)
離子色譜儀
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超聲硬度計(超聲波硬度計,萬能硬度計,大工件測試硬度計)
金屬硬度計(維氏硬度計、顯微維氏硬度計、洛氏硬度計、布氏硬度計)
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X-射線儀器

 X-射線儀器
  • 如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以
  • 產(chǎn)品名稱: X-射線儀器
  • 產(chǎn)品型號:FISCHERSCOPE® X-射線儀器
  • 產(chǎn)品展商:其他品牌
  • 產(chǎn)品文檔:無相關(guān)文檔
簡單介紹

所有的設(shè)備遵循ASTM B568, DIN 60 987和 ISO 3497等國家和國際標(biāo)準(zhǔn)。 HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗。通過對所有相關(guān)過程包括X射線熒光測量法的**處理和使用了*新的軟件和硬件技術(shù),F(xiàn)ISCHER公司的X射線儀器具有其獨(dú)特的特點(diǎn)。 ****的WinFTM?(版本3(V.3)或版本6(V.6))軟件是儀

產(chǎn)品描述
所有的設(shè)備遵循ASTM B568, DIN 60 987 ISO 3497等國家和國際標(biāo)準(zhǔn)。

HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗。通過對所有相關(guān)過程包括X射線熒光測量法的**處理和使用了*新的軟件和硬件技術(shù),FISCHER公司的X射線儀器具有其獨(dú)特的特點(diǎn)。

****的WinFTM®(版本3V.3)或版本6V.6))軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并保證一定測量精度的情況下測量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng),同時可以對包含多達(dá)24種元素的材料進(jìn)行分析(使用WinFTM® V.6軟件)

典型的應(yīng)用范圍如下:

單一鍍層:Zn, NiCr,Cu,Ag,AuSn等。
二元合金層:例如Fe上的SnPbZnNiNiP合金。
三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
雙鍍層,其中一個鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/PlasticFe。
*多24種鍍層(使用WinFTM® V.6軟件)。
分析多達(dá)4種(或24種-使用V.6軟件)元素。
分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。

 

 

FISCHERSCOPE®
X-RAY
XUL(M)®

FISCHERSCOPE®
X-RAY
XDL®-B

FISCHERSCOPE®
X-RAY
XDLM®-C4

FISCHERSCOPE®
X-RAY
XDVM®-W

FISCHERSCOPE®
X-RAY
XDVM®

測量方向

從下往上

從上往下

從上往下

從上往下

從上往下

X-射線管型號

W: 鎢管
MW:
微聚焦鎢管

W MW

W

MW

MW

MW

可調(diào)節(jié)的高壓
30kV; 40kV; 50kV

開槽的測量箱體

基本Ni濾波器
(
可選擇)

接收器(Co)
可選擇的
WM-
版本

數(shù)準(zhǔn)器數(shù)目

W-類型: 1
WM-
類型: 4

1

4

4

1

z-

無,或電機(jī)驅(qū)動或可編程的

電機(jī)驅(qū)動的或可編程的

可編程的

可編程的

測量臺類型

固定臺面或可
選的手動XY工作臺

固定臺面

手動XY工作臺或
可編程的XY工作臺

手動XY工作臺或
可編程的XY工作臺

可編程的XY工作臺

可編程的XY工作臺

測試點(diǎn)的放大倍率

38 - 184 x

20 - 180 x

20 - 180 x

40 - 568 x

30 - 1108 x

DCM方法
(
距離控制測量)

WinFTM® 版本

V.3 標(biāo)準(zhǔn)
V.6
可選擇

V.3 標(biāo)準(zhǔn)
V.6
可選擇

V.3 標(biāo)準(zhǔn)
V.6
可選擇

V.3 標(biāo)準(zhǔn)
V.6
可選擇

V.6 標(biāo)準(zhǔn)

操作系統(tǒng):
Windows XP prof.

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